Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Autor: Stanisław Adamczak
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
ISBN: 9788301231583
Numer wydania: Wydanie 1
Data premiery: 23.10.2023
Format: 165 mm x 235 mm
Oprawa: miękka
Ilość stron: 450
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki ... Zobacz cały opis

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych, Stanisław Adamczak

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Stanisław Adamczak
DPD Pickup punkt odbioru/ automat paczkowy od 9.99 zł
Paczkomaty Inpost od 13 zł
Firma kurierska DHL od 14 zł
Kurier DPD od 14 zł
Kurier Inpost od 14 zł
Punkt DHL Parcelshop od 14 zł
Firma kurierska od 14 zł
Darmowa dostawa od 159 zł

Brak ocen.

Bądź pierwszy i dodaj opinię.

Dodaj opinię, komentarz lub ocenę: